塞貝克系數(shù)測量儀是一種用于物理學、材料科學領(lǐng)域的物理性能測試儀器，可同步測試不同樣品在-100℃到1100℃下的的塞貝克系數(shù)和電導率，可測試對象包括：半導體、陶瓷、金屬、薄膜、涂層等。

　　塞貝克系數(shù)的定義：一種材料的Seebeck系數(shù)是度量材料上的溫度差引起的熱電電壓大小的量。Seebeck系數(shù)國際單位是伏每開爾文（V/K），另外一個常用的單位是微伏每開爾文（μV/K）。

　　根據(jù)這個定義，我們可以測試塞比克系數(shù)。商用的塊體材料Seebeck系數(shù)測試系統(tǒng)有很多，國產(chǎn)的有科瑞歐公司的CTA-x系列和嘉儀通科技的Namicro-3，國外的有日本ULVAC公司的ZEM3和德國林賽斯公司的LSR-3。

　　塞貝克系數(shù)測量儀高度可靠與堅固的設計 - 防止擴散問題

　　熱電偶位置使用機械方式進行固定。在測量過程中，設定的接觸力（由重量與冷彈簧所致）可以防止熱電偶位置的變化。熱電偶帶有護套，以防止可能的與樣品的粘連擴散。

　　塞貝克系數(shù)測量儀無需測量距離：

　　固定的熱電偶位置之間的距離測定是一個既麻煩、同時又經(jīng)常需要進行的過程。SBA 458 的設計則減少了操作者在這方面的麻煩。由于在電導率測量過程中排除了這一潛在的錯誤源，提高了結(jié)果的精度與重復性。